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太赫兹器件用碳纳米管取向度测量装置及方法

摘要

本发明公开了一种太赫兹器件用碳纳米管取向度测量装置及方法。压板布置在底板的上面,定向排列碳纳米管阵列布置在基底,定向排列碳纳米管阵列和基底共同布置在压板和底板之间,且被压板和底板压紧在中间;压板上面铰接地安装有顶板;顶板上布置有多个转子电极,压板上布置多个和定向排列碳纳米管阵列接触的定子电极,转子电极上端连接电阻测量仪器的两端,转子电极下端穿过顶板后和压板上的定子电极电连接。利用碳纳米管的电学偏振性,通过简单、快速和无损的方法获取定向排列碳纳米管阵列的取向度,解决了现有技术中通过光学、扫描电镜等方式测量碳纳米管阵列取向度存在的破损、时间长等问题。

著录项

  • 公开/公告号CN114235900A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江大学;浙江开浦科技有限公司;

    申请/专利号CN202111578683.5

  • 申请日2021-12-22

  • 分类号G01N27/04(20060101);

  • 代理机构33200 杭州求是专利事务所有限公司;

  • 代理人林超

  • 地址 310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号

  • 入库时间 2023-06-19 14:39:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-25

    公开

    发明专利申请公布

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