基于圆模型的SAR ADC电路测试优化方法

摘要

本发明公开了一种基于圆模型的SAR ADC电路测试优化方法，首先确定SAR ADC电路可使用的测试信号频率数量、开关数量和潜在的故障元件数量，将测试选择向量作为遗传种群中的个体，测试选择向量中包含测试信号频率编码和测试向量，在个体进化过程中，获取每个测试选择向量下每个故障元件的圆模型，将圆模型圆心之间距离的最小值作为测试选择向量的个体适应度值，同时维护一个适应度矩阵用于存储优秀个体，在最终的适应度矩阵中选择最优测试选择向量，然后根据最优测试选择向量的模糊组选择其他测试选择向量，进而确定每次测试的测试信号频率和测试向量。本发明结合故障元件的圆模型和遗传算法，实现了测试参数优选，从而提高故障诊断准确率。