针对接触式R-test性能指标需求的硬件参数优化配置方法

摘要

本发明公开了一种针对接触式R‑test性能指标需求的硬件参数优化配置方法，具体为：首先分别定义硬件几何参数和精度参数并建立测量空间关于硬件几何参数之间的约束模型、测量精度关于硬件精度的约束模型；然后基于测量空间和硬件几何参数的约束模型利用穷举法来实现针对指定测量空间要求的硬件几何参数优化配置；再基于测量精度和硬件精度参数的约束模型利用变参数法来实现针对指定测量精度要求的硬件精度参数优化配置。本发明基于接触式R‑test测量原理，完成指定要求下的测量仪器硬件配置，从而达到对测量仪定制化设计的目的，在各类接触式R‑test上都泛用。