一种测试机校准方法、校准装置及测试机

摘要

本发明公开了一种测试机校准方法、校准装置及测试机，测试机校准方法包括：获取多个基准阻抗测量值，其中，不同基准阻抗测量值对应不同标称值的基准阻抗；获取每个基准阻抗测量值与对应基准阻抗的标称值之间的偏差值，将一个基准阻抗测量值以及其对应的偏差值作为一个坐标点，利用全部坐标点生成拟合函数；获取待测工件的阻抗测量值，根据拟合确定待测工件的阻抗测量偏差值，根据待测工件的阻抗测量值和阻抗测量偏差值确定待测工件的实际阻抗值。通过本发明提出的测试机校准方法，当待测工件的阻抗值与基准阻抗的阻抗值相差较大时，可以准确的实现对阻抗测量值的校准，进而准确确定待测工件的实际值。