一种高故障覆盖率的阻变存储器的测试方法

摘要

本发明公开一种高故障覆盖率的阻变存储器的测试方法，包括以下步骤：一、对阻变存储器的存储单元进行Forming操作；二、按照地址升序对阻变存储单元进行读1和写0操作；三、按照地址升序对阻变存储单元进行2次连续的读0操作，随后执行1次写1操作；四、按照地址升序对阻变存储单元依次执行读1、读1、写0、写1和读1操作；五、按照地址降序对阻变存储单元进行读1、写0、读0操作；六、按照地址降序对阻变存储单元进行写1、写0、读0操作；七、按照地址升序对阻变存储单元进行读0、写1、读1操作；八、延迟或暂停一段时间，按照地址升序对阻变存储单元进行读1、写0、读0操作；九、输出所有阻变存储单元的故障一览表。