公开/公告号CN114136736A
专利类型发明专利
公开/公告日2022-03-04
原文格式PDF
申请/专利权人 长江存储科技有限责任公司;
申请/专利号CN202111466420.5
申请日2021-12-03
分类号G01N1/28(20060101);G01N23/20008(20180101);
代理机构31100 上海专利商标事务所有限公司;
代理人朱方杰;骆希聪
地址 430079 湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号
入库时间 2023-06-19 14:23:39
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-03-04
公开
发明专利申请公布
机译: 使用分析结构进行半导体器件缺陷分析的失效分析方法及该方法
机译: 用于分析方法计量估算的具有微混合剂的低熔点金属试样的制备方法
机译: 拉伸状态下的橡胶试样张力工具,分子结构/分子流动性分析仪及分析方法