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透射电镜试样及其制备方法、待测结构的失效分析方法

摘要

本发明提供一种透射电镜试样的制备方法,包括以下步骤:在待测结构中确定测试目标区域;基于测试目标区域提取测试块,所述测试块包括与所述目标区域对应的目标区部分和与目标区部分第一侧边连接的支撑区部分,且所述支撑区部分具有高于所述目标区部分的凸出部;将目标区部分沿与第一侧边平行的方向的中部在厚度方向减薄,作为试样观测区,所述目标区部分形成第一端部和第二端部;对所述支撑区部分沿与所述第一侧边平行的方向的中部在厚度方向减薄至所述凸出部中以形成中间连接部,支撑区部分形成第一端部和第二端部,所述中间连接部与所述支撑区部分的第一端部、第二端部及所述目标区部分的第二端部共同构成所述透射电镜试样的支撑框。

著录项

  • 公开/公告号CN114136736A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 长江存储科技有限责任公司;

    申请/专利号CN202111466420.5

  • 发明设计人 蔡亚娟;郭伟;

    申请日2021-12-03

  • 分类号G01N1/28(20060101);G01N23/20008(20180101);

  • 代理机构31100 上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人朱方杰;骆希聪

  • 地址 430079 湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号

  • 入库时间 2023-06-19 14:23:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-04

    公开

    发明专利申请公布

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