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基于激光跟踪仪的扫描系统和扫描方法

摘要

本发明描述一种基于激光跟踪仪的扫描系统和扫描方法,是用于获取工件轮廓的扫描系统,扫描系统包括:靶球,激光跟踪仪、机械臂、导轨、扫描仪、姿态探测器、以及控制模块,靶球包括设置于工件的第一靶球和设置于姿态探测器的第二靶球,激光跟踪仪配置为跟踪第一靶球以建立空间坐标系并配置为跟踪第二靶球以跟踪姿态探测器,机械臂可滑动地设置于导轨,扫描仪对工件进行仿形运动,姿态探测器包括第一姿态探测器和第二姿态探测器,扫描仪设置于第一姿态探测器和第二姿态探测器之间,控制模块配置为基于激光跟踪仪和或姿态探测器的测量数据控制机械臂的运动方式。在这种情况下,能够在扫描大型工件的轮廓时提高扫描精确度。

著录项

  • 公开/公告号CN114111627A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市中图仪器股份有限公司;

    申请/专利号CN202111489321.9

  • 申请日2021-12-07

  • 分类号G01B11/24(20060101);

  • 代理机构44398 深圳舍穆专利代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人黄贤炬

  • 地址 518000 广东省深圳市南山区西丽街道学苑大道1001号南山智园B1栋2楼

  • 入库时间 2023-06-19 14:20:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-01

    公开

    发明专利申请公布

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