一种对分子污染物吸附脱附性能分析测试的装置及方法

摘要

本发明提出了一种对分子污染物吸附脱附性能分析测试的装置及方法，属于污染物吸附领域。解决了吸附材料在不同真空度和宽温域条件下，对分子污染物进行分析测试的问题。装置包括冷辐射系统、热辐射系统、真空系统、天平传感器、吸附材料置物台、分子污染物加热台和真空罐。所述冷辐射和热辐射系统位置相对的设置在真空罐内，分别对真空罐进行制冷和制热，其可作为真空罐的热沉装置，以保证真空罐内温度均匀；天平传感器与吸附材料置物台相连，吸附材料置物台设置在冷辐射系统和热辐射系统之间，以达到任何位置都可收集污染物的目的；分子污染物加热台设置在真空罐底部，对真空罐进行加热。它主要用于分子污染物的分析和测试。