一种光电探测装置的参数配合和优化方法

摘要

本发明涉及一种光电探测装置的参数配合和优化方法，其技术特点是：选取光电探测装置的关键参数，计算由未引起荧光效应的入射光强度和荧光激发强度两部分组成的荧光发射光谱约化强度，计算反应光电倍增器与耦合光子的光谱匹配程度的光电转换光谱匹配效率，计算荧光光纤局部放电检测系统光电单元在波长λ1到λ2的综合效率，计算光电器件的信噪比SNR：通过比对荧光光纤局部放电检测系统光电单元的综合效率得到不同光电倍增器与耦合光子的光谱匹配效率程度。本发明可用于荧光光纤局部放电检测系统的开发、参数优化，实现不同光电倍增器与耦合光子的光谱匹配效率计算，辅助计算提高光电器件的信噪比，适用于电力设备状态监测和故障诊断领域。