TDICMOS的滚动行周期的实现和检测方法

摘要

TDICMOS的滚动行周期的实现和检测方法，涉及TDICMOS成像技术领域，解决现有多谱段TDICMOS探测器成像时，在滚动行周期执行过程中，由于本地计时的偏差或者发送间隔的偏差，从而导致正在执行的滚动行周期被打断等问题，该检测方法通过高摄像同步性和精细像移补偿的TDICMOS的动态行周期成像系统实现；对所述成像系统的422解析及行周期处理模块采用状态机实现乒乓结构的RAM的控制以及滚动输出行周期；本发明中滚动的计时位置不采用计算的执行子时间与本地时间进行比较，而是采用本地时钟的计数器计时方式进行执行，避免由于外部输入的时间码更新而导致一秒内的连续执行过程被打断。为实现相对精确的延时，计数时会扣除状态机循环所占用的时间。