首页> 中国专利> 一种测斜方位数据的校正方法、装置、设备及存储介质

一种测斜方位数据的校正方法、装置、设备及存储介质

摘要

本发明实施例公开了一种测斜方位数据的校正方法,包括:获取设定采样时间内的传感器数据;对传感器数据进行滤波及校正处理,获得目标传感器数据;根据目标传感器数据,结合设定公式,确定校正后的测斜方位数据。本发明实施例提供的测斜方位数据的校正方法,在不改变仪器硬件电路和机械结构的情况下,利用校正算法对传感器采集到的磁通门传感器数据和加速度传感器数据进行校正,进而根据校正后的数据确定最终的测斜方位数据,提高了测斜方位数据的准确性,为实时钻井和地层测井评价等工作提供了可靠数据支撑。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F11/07 专利申请号:2021113556434 申请日:20211116

    实质审查的生效

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号