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主要原因推定装置、主要原因推定系统以及程序

摘要

本发明提供主要原因推定装置、主要原因推定系统以及程序,能够更高精度地推定异常的主要原因,提示准确的对策。本发明具备:通信部,其取得包含表示设备或产品所产生的不良模式的不良模式信息和测量监视对象的所述设备中的规定的观测项目而得的传感器信息的观测值;趋势解析部,其使用所述观测值,进行该观测项目的趋势解析,对随着时间变化的变动倾向进行意义赋予;存储部,其存储有与所述不良模式、所述观测值和所述趋势解析的结果相关联的不良的主要原因以及与其对策相关联的主要原因推定信息;主要原因推定部,其在取得所述不良模式时,使用所述不良模式信息、所述观测值和所述趋势解析的结果、所述主要原因推定信息,推定不良的主要原因。

著录项

  • 公开/公告号CN114066131A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社日立制作所;

    申请/专利号CN202110802920.5

  • 发明设计人 樱井祐市;西纳修一;田代和幸;

    申请日2021-07-15

  • 分类号G06Q10/06(20120101);G06Q10/04(20120101);G06Q50/04(20120101);G01D21/00(20060101);

  • 代理机构11243 北京银龙知识产权代理有限公司;

  • 代理人曾贤伟;范胜杰

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2023-06-19 14:14:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06Q10/06 专利申请号:2021108029205 申请日:20210715

    实质审查的生效

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