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基于硅光电倍增管的亚微米单光子量级微小光斑测量方法

摘要

本发明公开的基于硅光电倍增管的亚微米单光子量级微小光斑测量方法,利用硅光电倍增管作为单光子响应探测器,结合精密位移台,通过二维或一维空间扫描和反卷积运算,得到了经过显微镜物镜聚焦的单光子量级脉冲激光光斑的尺寸与光强的空间分布。

著录项

  • 公开/公告号CN114046731A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安工程大学;

    申请/专利号CN202111279574.3

  • 申请日2021-10-29

  • 分类号G01B11/00(20060101);G01J1/44(20060101);

  • 代理机构61214 西安弘理专利事务所;

  • 代理人韩玙

  • 地址 710048 陕西省西安市碑林区金花南路19号

  • 入库时间 2023-06-19 14:12:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-02-15

    公开

    发明专利申请公布

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