基于动态阵元合成孔径聚焦的平板陶瓷膜缺陷超声成像方法

摘要

本发明属于超声检测和成像领域，具体涉及一种基于动态阵元合成孔径聚焦的平板陶瓷膜缺陷超声成像方法。包括如下步骤：步骤(1)：根据平板陶瓷膜进行超声设备的搭建和确定换能器数量；步骤(2)：改变换能器的位置；步骤(3)：采用动态阵元合成孔径聚焦的方法进行检测；在非缺陷区域采用单阵元检测模式，在缺陷区域采用多阵元检测模式，基于超声缺陷引起阵元接收能量的差异进而切换单阵元与多阵元的检测模式；步骤(4)：进行超声检测数据的储存；步骤(5)：对步骤(4)储存的数据进行运算，进行缺陷点的聚焦成像。本发明提出通过将多个小型超声波阵列拼接成大尺寸的超声波阵列，以此提高聚焦孔径，缩小焦点直径，来提高聚焦精度和成像速率。