公开/公告号CN114017910A
专利类型发明专利
公开/公告日2022-02-08
原文格式PDF
申请/专利权人 中国核动力研究设计院;
申请/专利号CN202111263877.6
申请日2021-10-27
分类号F24F11/74(20180101);F24F11/89(20180101);F24F13/02(20060101);G06F17/15(20060101);
代理机构51220 成都行之专利代理事务所(普通合伙);
代理人梁田
地址 610000 四川省成都市双流区长顺大道一段328号
入库时间 2023-06-19 14:08:07
机译: 调试系统,半导体集成电路和半导体集成电路的调试方式,是一种具有分析装置的调试系统,该分析装置对成为调试基板和目标的半导体集成电路的动作进行分析。
机译: 程序调试系统,程序调试方法和存储介质存储调试程序
机译: 调试系统,调试程序和调试程序存储介质