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基于应力概率密度法的结构随机疲劳寿命估算方法

摘要

本发明公开一种基于应力概率密度法的结构随机疲劳寿命估算方法,方法首先在随机载荷作用下,分别提取薄壁结构在空间坐标系中x、y、z三个方向上的正应力和剪应力;接着获取薄壁结构服从Weibull分布的Von Mises应力,求解Von Mises应力分量平方过程,得到Weibull参数m和η;然后基于窄带随机过程的条件,得出非Gauss过程的应力峰值概率密度函数Pp(s);最后基于Miner线性累计损伤理论,结合非Gauss过程的应力峰值概率密度函数Pp(s)建立随机疲劳寿命估算模型来确定薄壁结构的疲劳寿命。本发明不仅适用于窄带应力过程,经宽带修正后,也适用于宽带随机应力过程。

著录项

  • 公开/公告号CN114021357A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 沈阳航空航天大学;

    申请/专利号CN202111319645.8

  • 发明设计人 沙云冬;唐晓宁;

    申请日2021-11-09

  • 分类号G06F30/20(20200101);G06F30/15(20200101);G06F17/18(20060101);G06F119/02(20200101);G06F119/04(20200101);G06F119/14(20200101);

  • 代理机构21109 沈阳东大知识产权代理有限公司;

  • 代理人李在川

  • 地址 110136 辽宁省沈阳市道义经济开发区道义南大街37号

  • 入库时间 2023-06-19 14:08:07

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