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基于自监督掩膜的图像异常检测和异常定位方法及系统

摘要

本发明提供了一种基于自监督掩膜的图像异常检测和异常定位方法及系统,涉及计算机视觉和图像处理技术领域,该方法包括:掩膜随机生成步骤、掩膜初始化步骤、生成初始化掩膜、图像特征提取步骤、图像重建步骤、重建图像对齐步骤、掩膜更新步骤、掩膜更新终止决策步骤以及异常评定步骤。本发明通过引入自监督掩膜的训练,提高了异常检测算法的异常定位能力,从而在异常检测和异常定位任务上取得较好的性能。

著录项

  • 公开/公告号CN114022475A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海交通大学;

    申请/专利号CN202111397389.4

  • 发明设计人 王延峰;黄潮钦;徐勤伟;张娅;

    申请日2021-11-23

  • 分类号G06T7/00(20170101);G06N3/08(20060101);G06N3/04(20060101);

  • 代理机构31334 上海段和段律师事务所;

  • 代理人李佳俊

  • 地址 200240 上海市闵行区东川路800号

  • 入库时间 2023-06-19 14:08:07

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