支持工作量证明机制的芯片及其测试方法

摘要

本文公开一种支持工作量证明机制的芯片，包括：多个工作单元和分别内置在各个工作单元内的测试模块；所述测试模块，配置为根据接收到的测试指令对所在的工作单元进行测试，并返回测试结果；所述工作单元包括以下至少一种：计算单元、存储单元和交叉开关的接口单元；计算单元通过交叉开关与存储单元连接。本文的方案能够精确定位芯片中工作异常的工作单元，从而便于排查芯片故障，降低芯片的报废率。