高分子材料核辐射损伤判断方法、装置、设备及介质

摘要

本发明提供一种高分子材料核辐射损伤判断方法、装置、设备及介质。所述方法包括：获取高分子材料的组分、密度和厚度，并根据所述高分子材料的组分、密度和厚度，确定辐射场环境下高分子材料内部的光子能量沉积和中子能量沉积；将所述光子能量沉积和所述中子能量沉积输入至高分子材料辐射损伤模型中，得到高分子材料经辐射后的相对分子量；根据高分子材料经辐射后的相对分子量，判断所述高分子材料在辐射场环境下是否发生辐射损伤。本发明通过高分子材料辐射损伤模型判断高分子材料是否发生辐射损伤，提高了辐射损伤判断的准确性，具有较高的应用价值。