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一种用于深度学习的X射线缺陷检测图像数据增强方法

摘要

本发明公开一种用于深度学习的X射线缺陷检测图像数据增强方法。该方法包括如下步骤:采集工件的X射线投影图像序列,通过重建算法得到三维CT图像;选取有缺陷的三维CT图像,提取缺陷部分的体素模型并对其进行三维图像变换,构成缺陷库;从所述缺陷库中随机选取缺陷并添加到无缺陷的三维CT图像中,生成有缺陷的三维CT图像;通过前向投影操作生成仿真DR图像,以达到数据增强的目的。本发明实施例通过构建X射线成像数学‑物理模型进行数据增强,相比于传统直接对DR图像进行变换的方法,生成的仿真DR图像集更接近实际射线检测图像,能为基于深度学习的X射线缺陷检测提供海量高质量的数据集,为提高缺陷识别准确率提供重要保障。

著录项

  • 公开/公告号CN113989126A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学宁波创新研究院;

    申请/专利号CN202111284225.0

  • 发明设计人 傅健;鲁俊逸;张昌盛;明晨;

    申请日2021-11-01

  • 分类号G06T3/60(20060101);G06T5/30(20060101);G06T7/00(20170101);G06T7/155(20170101);

  • 代理机构11251 北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人安丽

  • 地址 315800 浙江省宁波市北仑区北京航空航天大学宁波创新研究院

  • 入库时间 2023-06-19 14:01:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-02-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 3/60 专利申请号:2021112842250 申请日:20211101

    实质审查的生效

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