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形成用于薄膜晶体管结构的电感耦合高密度等离子体膜的方法

摘要

本公开的实施方式一般涉及制造薄膜晶体管(TFT)的方法。更具体地,本文描述的实施方式涉及使用电感耦合等离子体高密度等离子体工艺在金属氧化物层之上沉积绝缘层以提高电子迁移率的方法。高密度等离子体包括大于1.0E11/cm3的电子或离子等离子体密度。金属氧化物层用由N2O气体或N2O气体与氩气形成的电感耦合等离子体进行预处理。由SiH4气体和N2O气体形成的电感耦合等离子体用于沉积绝缘层,例如氧化硅层。氧化硅层为蚀刻停止层,或者氧化硅层为TFT结构的钝化层。本公开内容用于MO TFT结构和互补MO TFT和LTPS TFT结构。

著录项

  • 公开/公告号CN113994458A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 应用材料公司;

    申请/专利号CN202080044751.7

  • 申请日2020-06-17

  • 分类号H01L21/336(20060101);H01L29/417(20060101);H01L29/10(20060101);

  • 代理机构11006 北京律诚同业知识产权代理有限公司;

  • 代理人徐金国;赵静

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-06-19 14:01:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-02-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/336 专利申请号:2020800447517 申请日:20200617

    实质审查的生效

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