一种IO静态参数测试方法及系统

摘要

本发明公开了一种IO静态参数测试方法及系统，选择电源通道，通过引线连接电源通道和待测芯片的待测IO口，并根据待测IO口为每一个待测芯片配置对应的IO寄存器配置表，因此仅需为每个芯片配置IO配置文件即可实现IO测试；控制IO测试板对待测IO口依次进行预设测试，根据预设测试的每一个测试项配置待测芯片的IO状态，并将测试项所需的供电数据发送至电源通道，从而为待测芯片供电，并使用电源通道中的采样电路采集待测IO口的参数，得到每个待测IO口在每个测试项中的静态参数，相较于现有技术中的专用IO测试机，仅需要为芯片配置对应的IO寄存器配置表和预设测试内容，开发成本低且提高了静态参数的测试效率。