首页> 中国专利> 时频尺度变换的曲线轨迹双基前视SAR成像方法

时频尺度变换的曲线轨迹双基前视SAR成像方法

摘要

本发明公开了一种时频尺度变化的曲线轨迹双基前视SAR成像方法,主要解决现有曲线轨迹双基前视SAR成像技术中参数空变严重,导致图像边缘区域无法高分辨聚焦的问题。其实现方案为:获取曲线轨迹双基前视SAR回波信号,对回波信号进行距离向走动校正和二阶楔形时频变换;对时频变换后的信号进行高阶徙动校正和距离压缩,完成对回波信号的距离向处理;基于方位向空变模型构建高阶扰动因子和非线性变标因子重构距离向处理后的信号方位向频谱,得到多普勒参数一致的回波信号,并对其进行统一聚焦,得到聚焦后的SAR图像。本发明提升了曲线轨迹双基前视SAR成像图像的边缘区域聚焦深度,提高了图像质量,可用于前视高分辨探测。

著录项

  • 公开/公告号CN113960598A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN202111244261.4

  • 申请日2021-10-26

  • 分类号G01S13/90(20060101);

  • 代理机构61205 陕西电子工业专利中心;

  • 代理人王品华

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号

  • 入库时间 2023-06-19 13:58:51

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号