具有减少视差效应的X射线测量装置

摘要

本发明涉及一种用于X射线辐射的测量装置(20)，包括：能用X射线(2)照射的样品位置(3)；和用于探测从样品位置(3)发出的X射线辐射的X射线探测器(13)，所述X射线探测器包括至少一个探测器模块(21‑24)，所述探测器模块(21‑24)具有多个沿测量方向(MR)上依次设置的传感器元件(14；14a‑14e)，这些传感器元件分别具有面重心(18)，这些传感器元件(14；14a‑14e)设置在探测器模块(21‑24)的共同的传感器平面(16)中，其特征在于，所述探测器模块(21‑24)的至少多数传感器元件(14；14a‑14e)、优选所述探测器模块(21‑24)的所有传感器元件(14；14a‑14e)构造成等距的传感器元件(14；14a‑14e)，对于所述等距的传感器元件，这些传感器元件(14；14a‑14e)的面重心(18)与样品位置(3)具有相同的距离R0。根据本发明的测量装置能利用平面探测器模块、尤其是半导体探测器模块来实现，并且不容易发生测量误差。