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一种孔边表面缺陷检出概率试验的试件设计及试验方法

摘要

本发明涉及一种孔边表面缺陷检出概率试验的试件设计及试验方法,可实现裂纹样本的高效制备、提高试验效率。在多孔平板拉伸试件上沿载荷施加方向排布四个孔,从而在试验件上造成应力集中以作为裂纹萌生的潜在位置;依据PoD曲线上可能存在漏检的样本区间,确定试验所需要的裂纹长度区间[al,au],通过调整试件尺寸,结合三维裂纹扩展模拟,保证[al,au]处于稳态裂纹扩展阶段;在试件一侧的孔边应力集中部位采用电火花按照斜45°方向切割预制缺口,使得应力集中部位在试件两侧萌生长度不同的裂纹,从而有效增加裂纹样本长度的多样性,以提高PoD曲线的建模精度。基于本发明可实现孔边表面裂纹PoD试验的试件高效制备,大幅提升PoD数据获取的试验效率。

著录项

  • 公开/公告号CN113916629A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN202111182243.8

  • 发明设计人 王荣桥;毛建兴;刘昱;胡殿印;

    申请日2021-10-11

  • 分类号G01N1/28(20060101);

  • 代理机构11251 北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人张乾桢;江亚平

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2023-06-19 13:52:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-07-21

    授权

    发明专利权授予

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