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一种用于中子散射测试样品的储存测试装置

摘要

本申请实施例公开了一种用于中子散射样品的储存测试装置,涉及放射性产品领域,解决了测试人员在进行放射性样品测试时受到放射性样品辐射的问题,保证了测试人员的安全。该申请的用于中子散射样品的储存测试装置包括第一屏蔽体和第二屏蔽体,其中,第一屏蔽体为具有缺口的半包围结构,在第一屏蔽体上设置有中子入射孔和中子出射孔;在第二屏蔽体上设置承载样品的承载组件,第二屏蔽体的外轮廓与缺口相适配,第二屏蔽体可移动至缺口处,第一屏蔽体和第二屏蔽体内部形成封闭测试腔,样品位于封闭测试腔内,中子入射孔、样品和中子出射孔位于同一直线上。本申请的用于中子散射样品的储存测试装置用于对放射性样品进行储存测试,研究样品的内部结构。

著录项

  • 公开/公告号CN113884520A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国原子能科学研究院;

    申请/专利号CN202111120649.3

  • 申请日2021-09-24

  • 分类号G01N23/20008(20180101);G21F3/00(20060101);

  • 代理机构11270 北京派特恩知识产权代理有限公司;

  • 代理人何娜;张颖玲

  • 地址 102413 北京市房山区新镇三强路1号院

  • 入库时间 2023-06-19 13:32:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-10-27

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N23/20008 专利申请号:2021111206493 申请公布日:20220104

    发明专利申请公布后的驳回

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