用于测试连续逼近寄存器模数转换器的方法和装置

摘要

本公开的各实施例涉及用于测试连续逼近寄存器模数转换器的方法和装置。一种集成电路包括逐次逼近寄存器(SAR)模数转换器(ADC)。ADC包括位步长选择器。在ADC的测试期间，位步长选择器基于在针对最近的模拟测试电压的最近的数字值的整数增量值内的数字值，来选择要针对下一模拟测试电压而测试的位数。