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一种微光条件下偏振三维重建方法

摘要

本发明提出了一种微光条件下偏振三维重建方法。利用光子计数技术获取微光条件下目标表面的反射光偏振信息,给出初始偏振三维重建结果。接着考虑主动照明激光方向矢量提供的额外阴影约束,对初始重建结果中的法向量方位角误差进行校正,有效解决偏振重建的凹凸性模糊问题。由光子探测半经典理论可以推导出基于泊松分布的光子计数概率模型,因此在利用单光子探测器获取反射光子计数值后可利用该模型将接收光子计数值映射到实际反射光子数值,并用此结果来反映目标表面反射光偏振信息。在方位角的校正过程中则是利用目标反射光非偏振光强,激光方向矢量和目标表面法向量之前存在的联系,对不确定的方位角增加额外约束以达到校正效果。

著录项

  • 公开/公告号CN113706693A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉大学;

    申请/专利号CN202110992336.0

  • 发明设计人 田昕;肖滢;刘芮;何访;

    申请日2021-08-27

  • 分类号G06T17/00(20060101);

  • 代理机构42222 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人王琪

  • 地址 430072 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学

  • 入库时间 2023-06-19 13:24:42

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