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一种高分辨力准分布式物理量测量方法、装置及系统

摘要

本申请公开了种高分辨力准分布式物理量测量方法,通过耦合于待测物体的光纤光栅阵列测量待测物体的物理量变化,其采用分布式反馈阵列激光器提供拼接的测量光并将测量物理状态下的中心波长与所述光纤光栅阵列上各个光纤光栅各自的初始中心波长做比较获得中心波长变化量,进而得到所述光纤光栅阵列上各个光纤光栅上的物理量变化。本申请采用一种等光频间隔采样的方式获取光栅阵列的光谱,进而实现光纤光栅阵列的波长解调与准分布式物理量测量。获得了大范围访问带宽,使得可以复用更多数量的光纤光栅,提高了单个光纤光栅可探测到的物理量测量的量程。本申请还公开了相应的装置和系统。

著录项

  • 公开/公告号CN113670347A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大连理工大学;

    申请/专利号CN202010413994.5

  • 发明设计人 武湛君;赵士元;

    申请日2020-05-15

  • 分类号G01D5/353(20060101);

  • 代理机构21212 大连东方专利代理有限责任公司;

  • 代理人姜玉蓉;李洪福

  • 地址 116024 辽宁省大连市高新园区凌工路2号

  • 入库时间 2023-06-19 13:20:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-21

    授权

    发明专利权授予

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