首页> 中国专利> 一种针对研发机构的质量成本测算和管控方法及系统

一种针对研发机构的质量成本测算和管控方法及系统

摘要

本发明涉及一种针对研发机构的质量成本测算和管控方法及系统,其方法包括:S1、建立质量成本分析模型;S2、建立质量成本分析模型指标体系;S3、分析企业线当前年度总体情况;S4、分析企业线年度变化趋势;S5、对项目线进行分类;S6、对同类项目进行分析;S7、寻找标杆;S8、对不同类项目进行分析;S9、对单项目进行分析;S10、对部门线的当前年度总体情况进行分析;S11、对部门线的年度变化趋势进行分析。本发明通过企业线、项目线和部门线分析,针对研发机构提出的质量成本测算和管控系统技术,为研发机构提供质量绩效评价、投入产出效益分析、质量成本损失预警和质量改进建议。

著录项

  • 公开/公告号CN113673829A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华南理工大学;

    申请/专利号CN202110841535.1

  • 发明设计人 周文慧;郑志斌;柴勇;刘昊东;

    申请日2021-07-26

  • 分类号G06Q10/06(20120101);G06Q30/02(20120101);

  • 代理机构44245 广州市华学知识产权代理有限公司;

  • 代理人黄卫萍

  • 地址 510640 广东省广州市天河区五山路381号

  • 入库时间 2023-06-19 13:18:31

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号