一种基于光度立体的物体表面瑕疵检测分析方法及装置

摘要

本申请提供了一种基于光度立体的物体表面瑕疵检测分析方法及装置，其中，一种基于光度立体的物体表面瑕疵检测分析方法包括：获取至少三种不同角度光源的待测物体表面图像上的像素值，构建光度立体数学模型；对光度立体数学模型进行反射率计算，构建反射率图；计算得到待测物体表面的梯度场；根据待测物体表面的梯度场，进行高斯表面曲率计算和进行平均表面曲率计算，获取高斯表面曲率缺陷图和平均表面曲率缺陷图；分析反射率图、高斯表面曲率缺陷图和平均表面曲率缺陷图，得到检测结果。该方法避免了传统的图像处理技术难以对多种不同的物体表面分析找出瑕疵的问题，具有检测准确率较高，且普适性强的特点。