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使用物理表面修整对金属组件进行快速有效的表层深度测量

摘要

本发明标题为使用物理表面修整对金属组件进行快速有效的表层深度测量。用于确定金属组件的有效表层深度的方法包括:通过用喷射介质对金属组件的暴露表面进行喷射或喷丸处理来形成修整的核心表面。暴露表面是表层和核心的连续暴露表面。方法包括使用表面计量传感器测量修整的核心表面的表面纹理、压缩应力或另一合适的特征,以及使用测量特征来识别表层‑核心边界,包括识别特征中预定差异或梯度在暴露表面内存在的位置。方法还包括将有效表层深度测量为表层的参考表面与表层‑核心边界之间的垂直距离。

著录项

  • 公开/公告号CN113639654A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 波音公司;

    申请/专利号CN202110376323.0

  • 发明设计人 A·加尔文;M·P·西科恩;

    申请日2021-04-06

  • 分类号G01B11/22(20060101);G01B11/30(20060101);G01N23/207(20060101);

  • 代理机构11245 北京纪凯知识产权代理有限公司;

  • 代理人金德善

  • 地址 美国伊利诺伊州

  • 入库时间 2023-06-19 13:15:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-05-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/22 专利申请号:2021103763230 申请日:20210406

    实质审查的生效

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