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一种用于痕量汞离子检测的微流控原位SERS检测方法

摘要

本发明实施例公开了一种用于痕量汞离子检测的微流控原位SERS检测方法,包括:在微流控芯片接口1通入硝酸银和柠檬酸钠混合溶液,采用激光微区光还原法直接在微流管道中制备银纳米聚集体作为SERS基底;在微流控芯片接口2通入NaI溶液,对银纳米聚集体进行I‑修饰;在接口3中通入结晶紫溶液,并采集银纳米聚集体的SERS信号;在接口4通入样本Hg2+溶液,并原位再次采集SERS信号;统计Hg2+作用前后结晶紫分子SERS强度的下降率,实现对Hg2+的传感;进一步,重复上述步骤,测量不同浓度Hg2+样品,获得Hg2+浓度对数与SERS强度下降率的函数关系,为Hg2+定量检测提供基础。

著录项

  • 公开/公告号CN113624744A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 首都师范大学;

    申请/专利号CN202111048052.2

  • 申请日2021-09-08

  • 分类号G01N21/65(20060101);

  • 代理机构11346 北京汇智胜知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人石辉

  • 地址 100048 北京市海淀区西三环北路105号

  • 入库时间 2023-06-19 13:12:12

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