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一种基于LCD制程的全自动缺陷检测方法和系统

摘要

本发明提供一种基于LCD制程的全自动缺陷检测方法和系统,LCD生产线的传送机构将液晶面板传送并由定位机构定位,同时由光源输出对液晶面板的检测光线;调整CCD相机的镜头与液晶面板之间的距离以进行对焦处理;使CCD相机沿着预设的路径依次采集获取该液晶面板的多张原始图像;由图像校正模块对每张原始图像进行畸形校正处理;由图像拼接模块对全部畸形校正图像进行图像拼接,得到全局图像;检测区域定位模块基于模板匹配算法从全局图像中提取待检测区域;由图像检测装置采用预设的检测算法对多条LCD生产线同步提供的液晶面板待检测区域进行图像融合检测处理,输出检测结果。本发明能够有效提升LCD制程的检测效率和准确率。

著录项

  • 公开/公告号CN113608378A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市绘晶科技有限公司;

    申请/专利号CN202111172203.5

  • 发明设计人 蒲学红;

    申请日2021-10-08

  • 分类号G02F1/13(20060101);G01N21/95(20060101);

  • 代理机构11855 北京惟盛达知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人董鸿柏

  • 地址 518132 广东省深圳市光明新区公明街道红星社区星工一路26号厂房第一栋第三层

  • 入库时间 2023-06-19 13:09:01

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