用例生成方法及装置、测试方法、可测试性设计方法

摘要

本申请实施例提供一种用例生成方法及装置、测试方法、可测试性设计方法，涉及芯片测试技术领域。该用例生成方法包括：通过预设约束文件对低速模块进行综合，以得到综合后的低速模块；基于插入扫描链后的编译工具和所述综合后的低速模块生成SPF文件；获取所述综合后的低速模块中捕获模式的目标频率；基于所述目标频率修改所述SPF文件中的参数，并基于修改后的SPF文件生成测试用例。该方法在预设约束文件中未定义扫描时钟，并通过修改SPF文件中的参数，从而可以降低扫描测试的捕获模式的频率，可以使得低速模块和高速模块可以一起进行测试。进而可以减小综合低速模块所得的面积，从而减少测试成本，还可以提高测试覆盖率。