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用于非侵入性根表型分析的方法和装置

摘要

本发明总体涉及检测土壤中植物的根。一种示例性系统包括:支撑结构,所述支撑结构被构造成至少部分地设置在所述土壤中;LED单元,所述LED单元附连到所述支撑结构,其中所述LED单元包括发射器和检测器,其中所述发射器被配置为产生多个出射光信号,其中所述检测器被配置为接收对应于所述多个出射光信号的多个返回光信号,并且其中所述多个返回光信号中的每个返回光信号包括从所述土壤和所述根中的至少一者反射的对应出射光信号的至少一部分;以及微处理器,所述微处理器被配置为基于所述多个返回光信号来检测所述根的存在。

著录项

  • 公开/公告号CN113614517A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HI保真遗传学股份有限公司;

    申请/专利号CN202080007458.3

  • 发明设计人 M·摩尔;J·阿吉拉尔;L·约翰逊;

    申请日2020-01-09

  • 分类号G01N21/84(20060101);G01N33/00(20060101);

  • 代理机构11494 北京坤瑞律师事务所;

  • 代理人封新琴

  • 地址 美国北卡罗来纳州

  • 入库时间 2023-06-19 13:09:01

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-01-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/84 专利申请号:2020800074583 申请日:20200109

    实质审查的生效

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