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检查褪膜不净的方法

摘要

本发明公开了一种检查褪膜不净的方法,包括以下步骤:将PCB板进行褪膜处理,生成待检测的板件;将待检测的板件放置于暗房中;开启UV灯照射待检测的板件;观察待检测的板件上是否出现发出荧光色或蓝紫色的标识,若是,判定为褪膜不净,若否,判定为符合要求并进行后续处理。通过干膜吸收UV灯照射的光波激发干膜内部的荧光染料,从而发出肉眼可见光,通过肉眼观察是否出现发出荧光色或蓝紫色的标识进而判定是否褪膜不净,在暗房中很容易观察到,解决了小宽线距的褪膜不净检测不到、短路品质缺陷的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN113588679A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 广州美维电子有限公司;

    申请/专利号CN202110654255.X

  • 发明设计人 关俊轩;刘勇;许杏芳;

    申请日2021-06-11

  • 分类号G01N21/91(20060101);H05K3/06(20060101);

  • 代理机构44288 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人王忠浩

  • 地址 510663 广东省广州市高新技术产业开发区科学城新乐路一号

  • 入库时间 2023-06-19 13:05:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/91 专利申请号:202110654255X 申请日:20210611

    实质审查的生效

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