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针对发光二极管的内建自测试

摘要

本公开的实施例涉及针对发光二极管的内建自测试。在一些示例中,设备包括内建自测试,该内建自测试用于检测第一发光二极管(LED)和第二LED之间的故障。设备包括第一焊盘对和第二焊盘对,第一焊盘对被配置为连接至第一LED,第二焊盘对被配置为连接至第二LED。内建自测试被配置为:控制第一驱动器和第二驱动器以逐个导通连接到第一焊盘对和第二焊盘对的相应通过开关。内建自测试被配置为然后确定第一LED和第二LED两端的第一正向电压和第二正向电压。内建自测试可以基于正向电压来确定第一LED和第二LED之间是否存在故障。

著录项

  • 公开/公告号CN113552460A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 英飞凌科技股份有限公司;

    申请/专利号CN202110356660.3

  • 发明设计人 A·德西科;R·基奥多;

    申请日2021-04-01

  • 分类号G01R31/26(20140101);G01R31/28(20060101);H05B45/50(20200101);

  • 代理机构11256 北京市金杜律师事务所;

  • 代理人黄倩

  • 地址 德国诺伊比贝尔格

  • 入库时间 2023-06-19 13:00:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-03-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/26 专利申请号:2021103566603 申请日:20210401

    实质审查的生效

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