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公开/公告号CN113533785A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-10-22
原文格式PDF
申请/专利权人 中国计量科学研究院;
申请/专利号CN202110829985.9
发明设计人 王芳;施玉书;李伟;张树;余茜茜;
申请日2021-07-22
分类号G01Q30/02(20100101);G01Q30/04(20100101);
代理机构11569 北京高沃律师事务所;
代理人杨媛媛
地址 100029 北京市朝阳区北三环东路18号
入库时间 2023-06-19 12:57:44
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2023-04-07
授权
发明专利权授予
机译: 扫描电子显微镜细线宽度的测量方法
机译: 扫描电子显微镜系统,使用该扫描电子显微镜所布置的图案测量方法以及扫描电子显微镜
机译: 线宽测量装置,线宽测量方法,图像处理设备,图像处理系统和计算机可读介质
机译:一种基于扫描电子显微镜的扫描电子显微镜测量线宽过程的方法。
机译:通过扫描电子显微镜检查和极浅Si刻蚀有效测量45nm半间距紫外纳米压印光刻图形的线宽
机译:开发一种使用扫描电子显微镜校准光掩模的线宽并测量纳米几何形状的方法
机译:扫描电子显微镜测量对193 nm光刻胶影响的机理研究和改进的线宽测量方法的发展
机译:基于自适应交通控制系统中基于停靠线检测的替代密度测量方法开发动脉基础图。
机译:基于智能手机的基于颜色自适应算法的比色pH检测自动测量方法
机译:过滤性能和纳米纤维直径的测定:测量和电子扫描显微镜/过滤性能的影响及纳米纤维直径的测定:测量方法和扫描电子显微镜的影响
机译:基于脑的自适应系统与手动自适应调用自动化系统的比较