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随机介质等效均匀化截面的计算方法

摘要

本发明涉及一种随机介质等效均匀化截面的计算方法,所述随机介质包括基体和容纳在基体内的若干种颗粒,该计算方法包括如下步骤:计算中子在基体中的穿透概率,并得出中子在基体中的首次碰撞概率;计算中子在颗粒中的首次碰撞概率;计算总穿透概率;以待求的等效均匀化总截面填充基体和所有颗粒,表示出中子在基体和颗粒中的穿透概率,并进而得出以颗粒半径、等效均匀化总截面表示的总穿透概率,考虑到总穿透概率应与上述总穿透概率相同,从而得到并求解关于等效均匀化总截面的非线性方程而计算出等效均匀化总截面;基于首次碰撞概率、总穿透概率和等效均匀化总截面计算自屏因子和等效均匀化截面。

著录项

  • 公开/公告号CN113536236A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN202110864208.8

  • 发明设计人 佘顶;石磊;刘志宏;夏冰;孙俊;

    申请日2021-07-29

  • 分类号G06F17/18(20060101);

  • 代理机构11250 北京三聚阳光知识产权代理有限公司;

  • 代理人张建纲

  • 地址 100084 北京市海淀区清华园1号

  • 入库时间 2023-06-19 12:57:44

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-10-11

    授权

    发明专利权授予

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