公开/公告号CN113496880A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-10-12
原文格式PDF
申请/专利权人 成都蓉矽半导体有限公司;
申请/专利号CN202010251282.8
申请日2020-04-01
分类号H01L21/28(20060101);H01L21/04(20060101);H01L29/423(20060101);
代理机构11017 北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人韩登营
地址 610000 四川省成都市高新区天府大道中段1366号2栋9楼12-18号
入库时间 2023-06-19 12:51:29
机译: 具有局部增厚的栅氧化层的单晶体管存储单元中的MOS晶体管及其制造方法
机译: 增厚选择性栅氧化层区域的工艺
机译: 铝或铝合金上的阳极氧化层的增厚步骤