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光扫描电磁波幅度和相位分布快速测量方法及系统

摘要

本发明公开了一种光扫描电磁波幅度和相位分布快速测量方法及系统,利用激光照射下半导体片产生的等离子体斑在待测区域不同位置对未知电磁场的散射,实现对未知电磁场幅度和相位分布的测量,包括:激光光源、光源控制装置、半导体片、接收天线、接收装置和信号处理及控制装置。该方法巧妙利用光致等离子体斑的散射特性和光扫描技术,实现了准确、快速、灵活电磁场幅相特性测量手段。

著录项

  • 公开/公告号CN113484620A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN202110759705.1

  • 发明设计人 白明;马辽;冷凝;

    申请日2021-07-06

  • 分类号G01R29/08(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2023-06-19 12:49:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-17

    授权

    发明专利权授予

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