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使用色彩计量进行的基板的厚度测量

摘要

一种层厚度测量系统包括用于固持基板的支撑件、用于捕获基板的至少一部分的彩色图像的光学传感器、以及控制器。控制器被配置成从光学传感器接收彩色图像;存储函数,所述函数根据至少两个维度的坐标空间中沿预定路径的位置来提供表示厚度的值,所述至少两个维度包括第一色彩通道和第二色彩通道;针对彩色图像的像素,从彩色图像中的色彩数据来确定像素在坐标空间中的坐标;确定在预定路径上最靠近所述坐标的点的位置;以及从函数以及预定路径上的点的位置来计算表示厚度的值。

著录项

  • 公开/公告号CN113490833A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 应用材料公司;

    申请/专利号CN202080017655.3

  • 申请日2020-02-06

  • 分类号G01B11/06(20060101);H01L21/66(20060101);G06T5/00(20060101);G06T7/00(20170101);G06T7/60(20170101);

  • 代理机构31100 上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人侯颖媖;张鑫

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-06-19 12:48:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-01-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/06 专利申请号:2020800176553 申请日:20200206

    实质审查的生效

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