一种发光器件激子特性参数反演方法及装置

摘要

本发明提供了一种发光器件激子特性参数反演方法及装置，属于发光器件领域，方法包括：构建基于发光器件TM/TE偏振态远场视角光谱、激子特性参数以及ETL膜层厚度的正向模型；调整正向模型中ETL膜层厚度，筛选出对激子分布函数敏感的第一ETL膜层厚度集；基于实际测量的TE偏振态远场视角光谱与基于最终ETL膜层厚度获取的理论TE偏振态远场视角光谱，结合线性拟合方法与非线性拟合方法，获取发光器件最终的激子分布函数；基于最终的激子分布函数和实际测量的TE偏振态远场视角光谱，采用最小二乘法反演得到激子取向参数。本发明无需提前获取激子分布初始形貌，实现了发光器件特性参数的准确、鲁棒性良好地反演。