首页> 中国专利> 区域电离层STEC改正数的完好性监测方法、系统

区域电离层STEC改正数的完好性监测方法、系统

摘要

本申请公开了区域电离层STEC改正数的完好性监测方法、系统。该方法包括:获取区域电离层改正数;采用非差非组合精密单点定位算法解算出包含接收机端和卫星端伪距硬件延迟的STEC;减去卫星端伪距硬件延迟,得到仅包括接受机端伪距硬件延迟的STEC;利用电离层薄层模型和多项式模型分离接收机端伪距硬件延迟,得到区域电离层的STEC实际估计值;根据所述区域电离层的STEC实际估计值计算区域电离层的STEC改正数的完好性保护级;将所述完好性保护级与告警门限值进行比较,输出完好性标识。

著录项

  • 公开/公告号CN113447958A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 千寻位置网络有限公司;

    申请/专利号CN202010220296.3

  • 发明设计人 郭海林;

    申请日2020-03-25

  • 分类号G01S19/20(20100101);

  • 代理机构31266 上海一平知识产权代理有限公司;

  • 代理人吴珊;须一平

  • 地址 200438 上海市杨浦区国权北路1688弄38号9层、10层、11层、12层

  • 入库时间 2023-06-19 12:45:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-07-29

    授权

    发明专利权授予

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号