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产品不良成因分析的系统和方法、计算机可读介质

摘要

一种产品不良成因分析的系统,包括:分布式存储设备、分析设备、显示设备;分布式存储设备,被配置为存储工厂设备产生的生产数据;分析设备包括一个或多个处理器,一个或多个处理器被配置为执行以下确定相关性的操作:从分布式存储设备存储的生产数据中获取生产记录(S101);生产记录包括多个产品在生产过程中经历的工艺设备的信息和发生不良的信息,每个产品在生产过程中经历多个工艺设备,每个工艺设备参与且仅参与多个产品中部分产品的生产过程;根据生产记录,确定多个工艺设备中的待分析工艺设备对应待分析不良的相关性权重,根据相关性权重确定待分析工艺设备与待分析不良的相关性(S102);显示设备,被配置为显示分析设备的分析结果。

著录项

  • 公开/公告号CN113454661A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 京东方科技集团股份有限公司;

    申请/专利号CN201980002712.8

  • 申请日2019-11-29

  • 分类号G06Q10/06(20060101);

  • 代理机构11112 北京天昊联合知识产权代理有限公司;

  • 代理人柴亮;姜春咸

  • 地址 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号

  • 入库时间 2023-06-19 12:43:46

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