测定纳米级系统(NSS)的理化性质的方法

摘要

本发明涉及使用分析型超速离心(AUC)测定纳米级系统(NSS)的理化性质的方法，包括以下步骤：生成与感兴趣的NSS相关的多维沉降分析图；选择样品相关参数；测定样品中沉降系数值/参数；将样本沉降系数值插入多维沉降分析图以获得NSS样品的映射值；以及从NSS样品的映射值推断NSS样品的理化性质。此外，本发明涉及用于执行该方法的系统、计算机程序产品和计算机可读存储介质。