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一种大斜视时变参数SAR的多层重叠子孔径成像方法

摘要

本发明公开了一种大斜视时变参数SAR的多层重叠子孔径成像方法,采用时变参数体质调整雷达参数,提升了空间分辨性能,省略原本的距离向插值操作,简化了成像处理流程,提高了运算效率。本发明的成像方法通过将沿方位向划分成N层重叠子孔径,提出多层重叠子孔径成像算法,提高了成像幅宽;在此基础上,根据畸变坐标的估计值求解出真实坐标的估计值,用真实坐标的估计值对空变的二次相位误差进行补偿,解决了距离场景中心较远的点不能良好聚焦的问题,进一步提升了成像幅宽。

著录项

  • 公开/公告号CN113406635A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京理工大学;

    申请/专利号CN202110676569.X

  • 发明设计人 王岩;丁泽刚;闵锐;李凌豪;曾涛;

    申请日2021-06-15

  • 分类号G01S13/90(20060101);G01S7/40(20060101);

  • 代理机构11120 北京理工大学专利中心;

  • 代理人郭德忠

  • 地址 100081 北京市海淀区中关村南大街5号

  • 入库时间 2023-06-19 12:37:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-05-05

    授权

    发明专利权授予

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