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一种基于空谱特征联合约束的高光谱异常检测方法

摘要

本发明涉及一种基于空谱特征联合约束的高光谱异常检测方法。传统的低秩表示模型中一致采用矩阵的核范数,即矩阵奇异值之和近似矩阵的秩,本发明提出以矩阵的S1/2范数近似矩阵的秩,即奇异值开根号之和,相对于核范数能够以更高的精度逼近矩阵的秩;传统的高光谱异常检测算法并未考虑噪声的影响,仅对背景和异常进行建模,本发明针对这一问题,在目标函数中对噪声建模,考虑了噪声对高光谱图像异常检测的影响,提高了异常检测的精度;已有的高光谱异常检测算法中绝大部分仅考虑了光谱特征,忽视了对高光谱图像空间特征的利用和对空间域信息的约束,本发明针对这一特性,对空间维度和光谱维度施加全变分正则化约束,实现了对高光谱图像空间特征的利用。

著录项

  • 公开/公告号CN113409261A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西北工业大学;

    申请/专利号CN202110657574.6

  • 申请日2021-06-13

  • 分类号G06T7/00(20170101);G06T5/00(20060101);G06K9/62(20060101);G06F17/16(20060101);

  • 代理机构61204 西北工业大学专利中心;

  • 代理人华金

  • 地址 710072 陕西省西安市友谊西路127号

  • 入库时间 2023-06-19 12:37:08

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