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用于相位量化ADC的IQ不平衡的校准模块及校准方法

摘要

本发明公开了一种用于相位量化ADC的IQ不平衡的校准模块及校准方法,该校准模块特征是:由失调误差校准模块、增益误差校准模块、相位误差校准模块和时序控制模块组成;失配误差校准模块是利用IQ在一个周期内的积分得出校准系数进行补偿;增益误差校准模块是利用失调校准后的IQ在半个周期内的积分得出校准系数进行补偿;相位误差校准模块是利用IQ半个周期信号做差得出夹角从而补偿;时序控制模块是由单个周期模块以及半个周期模块组成,分别生成单个周期以及半个周期。本发明可以对失调误差、增益误差及相位误差的综合情况进行校准,从而将不理想的IQ信号转换为理想的IQ正交信号输入相位量化ADC中进行模数转化。

著录项

  • 公开/公告号CN113381761A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 合肥工业大学;

    申请/专利号CN202110718658.6

  • 申请日2021-06-28

  • 分类号H03M1/10(20060101);H03M1/06(20060101);

  • 代理机构34101 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司;

  • 代理人陆丽莉;何梅生

  • 地址 230009 安徽省合肥市包河区屯溪路193号

  • 入库时间 2023-06-19 12:32:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-11-08

    授权

    发明专利权授予

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